產(chǎn)品概述

Agilent E7405A EMC分析儀提供您所需的EMC分析儀功能，使內(nèi)部EMI預(yù)符合性測(cè)試成為現(xiàn)實(shí)。早期評(píng)估設(shè)計(jì)的EMI性能對(duì)于成功的產(chǎn)品至關(guān)重要。HP/Agilent E7405A EMC標(biāo)準(zhǔn)分析儀為您提供較佳，內(nèi)置多生產(chǎn)力選項(xiàng)。

當(dāng)與寬帶天線結(jié)合使用時(shí)，E7405A能夠檢查來自DUT的輻射。這較好在沒有反射物體的區(qū)域進(jìn)行，例如開放區(qū)域或EMI室。

通過線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN)設(shè)備或吸收鉗將E7405A儀器耦合到電源線或數(shù)據(jù)線，測(cè)試電源線或數(shù)據(jù)線上的噪聲或干擾。

如果有排放問題，可以使用E7405A和11940A或11941A近場(chǎng)探頭來隔離和診斷問題的根源。

惠普安捷倫E7405A的其他特性和規(guī)格包括:

頻率范圍:9千赫至26.5千兆赫

1 Hz至5 MHz(包括200 Hz、9 kHz、120 kHz和1 MHz EMI帶寬)

+12.5 dBm TOI

= 150 dBm顯示平均噪聲級(jí)(DANL)

+45 dBm二次諧波失真(SHI)

自動(dòng)EMI測(cè)量

與安捷倫E7415A EMI軟件兼容

原木掃描

內(nèi)置前置放大器

可選跟蹤發(fā)生器

SCPI編程和IVI COM驅(qū)動(dòng)程序支持

堅(jiān)固、便攜的設(shè)計(jì)